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2023-02-17

華為用技術走出行業(yè)破局之路,用環(huán)境可靠性測試奠定技術基礎!

前幾日,華為在武漢召開了異常平板PC創(chuàng)新技術媒體溝通會,會上華為展示了PC平板產(chǎn)品的成果,用技術上的創(chuàng)新走出了行業(yè)破局之路。華為的研發(fā)有目共睹,后期完善的可靠性測試更是錦上添花。華為的PC平板產(chǎn)品在進入市場之前都會經(jīng)過各類測試,比如高溫高濕測試項目,在業(yè)界就屬于第一梯隊,這使得華為的PC平板產(chǎn)品在可靠性方面有更強的說服力。
 
環(huán)境可靠性試驗,高低溫試驗,溫度沖擊試驗

一、環(huán)境可靠性試驗對華為產(chǎn)品的作用
 
PC平板產(chǎn)品在使用過程中,環(huán)境條件的影響往往容易被忽視,然而它對其正常運行和有效利用有著很大的影響。各種系列PC平板產(chǎn)品的技術設備和信息記錄,對環(huán)境條件的參數(shù)范圍都有技術規(guī)定,超過和達不到這個規(guī)定就會使得產(chǎn)品的可靠性降低,壽命縮短。而環(huán)境因素中,溫度和濕度是不可分割的兩個重要因素。
 
華為研究所正是通過環(huán)境可靠性試驗,去反映華為的產(chǎn)品問題、功能設計,甚至反向“改造”生產(chǎn)線,用高度精密的自動化檢測設備替換掉傳統(tǒng)的人工質檢,也賦予了華為筆記本電腦、平板電腦諸多友商難以企及的長久耐用性、或是消費者甚至想象不到的細節(jié)體驗。
 
二、華為產(chǎn)品溫濕度試驗的過程
 
高溫會使元器件和電路產(chǎn)生的熱量散不出去,從而加快材料老化,并在內部引起暫時的或永久的微觀變化,低溫容易使得PC產(chǎn)品內部金屬部件鈍化,軟磁盤變得脆弱;相對濕度過低,容易產(chǎn)生靜電,對PC產(chǎn)品造成干擾,濕度過高會使得內部電阻增大,廣告媒體。所以說溫濕度對PC平板產(chǎn)品的影響不是那么一點點,在出廠前的測試變得尤為重要,這里我們僅從溫濕度試驗來看看華為產(chǎn)品具體是怎么做的。國內檢測機構多禾,在汽車、電子元器件、軍工業(yè)等領域都有自己的優(yōu)勢,技術人員二十年經(jīng)驗,性價比高。
 
環(huán)境可靠性試驗,高低溫試驗,溫度沖擊試驗

1)將樣品放入試驗箱,按照如下要求設定溫度程序
2)試驗箱設置溫度為+25℃,相對濕度為95%
3)用3h時間,使得溫度上升到+55℃,相對濕度95%,并保持9h
4)用3h時間,使得溫度降低到+25℃,相抵濕度95%,并保持9h
5)以上為一個周期,重復4個循環(huán)
6)然后在溫度+25℃,相對濕度75%條件下保持2h
7)取出樣品,常溫下恢復2h,檢查外觀
 
三、環(huán)境可靠性試驗讓華為技術成為破局之路
 
華為因為重視技術,才會更加重視華為平板電腦和PC設備的研發(fā)和測試。研發(fā)很好理解,但“測試”,常常被消費者忽略,然而實際上,各種先進的、行業(yè)首創(chuàng)的測試設備和測試方法,才是華為真正厲害的地方,包括全頻段天線信號、砂礫適應性、鹽霧侵蝕測試、高溫高濕、跌落測試等可靠性測試。

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